形貌仪采用白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,能够快速的对样品进行三维测量,具有高重复性和高分辨率的特点;
可以用做尺寸比较大的样品或检测现场使用,测量精准度高,下面为您简单介绍一下,形貌仪具有哪些特点。
首先,形貌仪采用了白光共聚焦色差技术,该项技术特点是能够是分辨率提高到纳米级别。在测量过程中,不会对样品产生破坏作用,而且测量的速度非常快,能够节约时间,精准度也相对比较高。
此外,能够测量的样品种类非常的多,能够测量透明样品和非透明样品,高反射率样品和低反射率样品,金属材料,以及表面光滑和粗糙的材料都可以进行测量。
尤其适合于测量表面,具有高坡度高曲折度的材料。
其次,形貌仪不受到样品反射的影响,也不受到外界环境光的影响,测量的样品不需要通过再次的加工处理,可以直接测量,测量相对比较简单,测量的范围也比较大,可以进行Z方向的测量。
形貌仪的特点大致就是这些,目前随着科学技术的进步,形貌仪得到了改进和升级,能够对不同的测试样品材料,进行精准测量,局限性和受限制范围越来越小,而且测量的准确度也越来越高。
电话:021-64200566 | 传真:15618746768 | 邮箱:021-67801892-810 | 地址:上海市闵行区金都路4299号D幢1833号
Copyright © 2015 上海千实精密机电科技有限公司版权所有