上海千实精密机电有限公司分享双晶斜探头的校准

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上海千实精密机电科技有限公司成立于2012年，专注于研发、设计及生产纺织、汽车内外饰件、塑料、纤维、气候老化、燃烧类等测试仪器，为学术研究单位及检测机构提供纺织测试仪器和服务，上海千实是目前国内较有竞争力和研发实力的纺织检测仪器厂家之一，研发团队由一群经验丰富的工程师组成，我们本着全心全意为客户服务，努力推动材料物理性能检测仪器技术革新而努力。

对于深度较浅的疲劳小裂纹，垂直入射的纵波探头探测灵敏度较低，若使用斜入射的纵波探头，则能有效提高其检测灵敏度，提高缺陷检出率。该类纵波探头常常有小角度纵波探头，以及双晶探头(平探头、曲面探头)两种。

而对于一些厚度小于8mm的薄板焊缝检测，则常常使用横波双晶双斜探头，这种探头可在焊缝边上进行检测，可不用对焊缝磨平处理，在一些特殊结构的构件中也能灵活使用。

纵波双晶探头和横波双晶双斜探头都可以避免探头盲区的影响，从而能检测到构件表面较浅区域中的缺陷。

双晶斜探头的校准方法

1、校准入射点(探头前沿)：用IIW试块(又称荷兰试块)或CSK-IA试块测斜探头零点，将仪器声速调节为3230m/s，显示范围为150mm，然后开始测试，用户如图将探头放在试块上并移动，使得R100mm的圆弧面的反射体回波达到，用直尺量出探头前端面和试块R100mm弧圆心距离，此值即为该探头的前沿值，R100mm弧圆心对应探头上的位置即为探头入射点。

斜探头校准通常需要以下步骤：1、校准入射点(探头前沿);2、校准探头角度(K值);3、校准材料声速;4校准探头零点。

2、校准探头角度(K值)：用角度值标定的探头可用IIW试块校准，如果是用K值标定的探头，可用CSK-IA试块校准。

这两种试块上有角度或K值的标尺，按探头标称值选择合适的标尺(右图所示，在IIW试块上侧可校准60-76度的探头，下侧可校准74-80度的探头，CSK-IA试块上侧可校准K2.0、K2.5、K3.0的探头，下侧可校准K1.0、K1.5的探头。请按试块上的标定值选择用合适的校准试块及校准方法)。

如图放置探头，左右移动使得反射体回波达到，此时入射点对应的刻度就是探头的角度或K值。

3、校准材料声速按照1中所述找到R100mm的反射波，调节显示范围使得屏幕上能显示该弧面的二次回波，选择闸门方式为双闸门，调节A闸门与一次回波相交，调节B闸门与二次回波相交，调节声速值使得状态行中声程测量值(S)为100，此时得到的声速值即为该材料的实际声速值。

4、校准探头零点保持上面的测量状态，将闸门方式改为正或负，调节探头零点使得状态行中声程测量值(S)再次为100，此时得到的探头零点值即为该探头的零点值。

斜探头的校准方法有很多，并不完全拘泥于用标准试块进行校准，也可以用已知深度的小孔进行校准，理论上参考反射体越小，校准的精度越高，但校准的难度也相应的加大。

用小孔校准时可通过测量小孔的深度和水平位置，计算斜率来校准角度，并利用测得的深度或水平位置值校准声速和探头零点。

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