上海千实精密机电科技有限公司资讯:由全国生物计量技术委员会对口负责的《X射线计算机断层成像安全检查系统校准规范》征求意见稿已经起草完成。为了使国家计量技术规范能广泛适用和更具操作性,特向全国有关单位征求意见和建议。
X射线安全检查计算机断层成像装置 (CT) (以下简称安检 CT) 是目前公共安全检查的重要设备。CT安检探测技术是基于CT扫描(X-Ray Computed Tomography), 利用X射线束对被检物一定厚度的层面进行扫描,由探测器接收透过该层面的 X 射线,转变为可见光后,由光信号转变为 电信号,再经 A/D 转为数字信号输入计算机进行处理成像。CT 扫描技术是建立在不同 料的物质对射线衰减不一样的性质基础之上,同时以 Radon 变换和Radon 反变换作为基本理论支撑,利用从不同方向对物体进行扫描透射得到的投影数据重建出物体的图像,任意方向得到的数据即为沿着该路径物体对射线衰减的积分,通过计算和变换得到该截面的衰减系数信息,从而重建出该截面的图像。
目前,国内多个企业、科研机构都在研发安检 CT 的技术,并且逐步提高安检 CT 的I工作效率和技术性能,而针对安检 CT 计量性能的评定国内还没有相应的计量技术法规,目前使用单位在机器验收时基本按照厂商提供的技术依据,为了加强此类设备计量性能的管理,江苏省计量科学研究院受全国电离辐射计量技术委员会的委托,经过长期的调研、资料查询、规程编制和试验验证,并根据对生产企业、应用单位安检 CT 的现场试验、数据分析,在参照有关国际、国内标准的基础上起草了 X 射线安全检查计算机断层成像装置 (CT)校准规范的送审稿。
JJF 1071-2010 《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001-2011 《通用计量术语及定义》、JJF 1059. 1-2012 《测量不确定度评定与表示》、GB/T 37128-2018 《X 射线计算机断层成像安全检查系统技术要求》共同构成支撑本校准规范编制工作的基础性系列文件。
本规范参考GB 15208. 1 —2018 微剂量 X 射线安全检查设备第 1 部 :通用技术要求;GB/ T 37128 — 2018 X 射线计算机断层成像安全检查系统技术要求;GB 18871 — 2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准等规程编制。
依据JJF 1071-2010 《国家计量校准规范编写规则》,本规程在架构上包括范围;引用文件;术语和计量单位;概述;计量特性;校准条件;校准项目与校准方法;校准结果的表达;复校时间间隔以及附录等内容。
校准环境条件:
1.环境温度: (25 土 10)°C; 2.相对湿度: (45-75) %; 3.大气压力: (86-106) kPa; 4.供电电源: (187-242) V, (50 土 3) Hz; 5.周围无明显影响校准系统正常工作的机械振动和电磁干扰 。
校准结果的处理:
校准证书内页格式参见附录 c, 校准证书应至少包括以下内容:a) 标题,如 “校准证书" ;b) 进行校准的地点;c) 证书或报告的性标识 (如证书编号),每页及总页数的标识;d) 客户的名称和地址;e) 被校准 X 线计算机断层成像安全检查系统的描述和明确标识 (如型号、产品编号等);f) 进行校准的日期或校准证书的生效日期;g) 校准所依据的技术规范的标识,包括名称和代号;h) 校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;i) 校准环境的描述;j) 校准结果及测量不确定度的说明;k) 校准员及核验员的签名;1) 校准证书批准人的签名;m) 校准结果仅对被校对象有效的声明;n) 未经试验室书面批准,不得部 复制证书或报告的声明。
本规范适用于 X 射线计算机断层成像安全检查系统的校准。
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